Qualifications

• Requirement

  【必要條件】
  ・英文：初級商業程度以上
  ・物理、材料科學、電機／電子工程、半導體工程、應用數學或其他相關理工科系碩士以上學歷
  ・具 2 年以上使用 X-ray（X光）等分析儀器進行實驗或量測的經驗，並具實驗數據之統計評估、分析及視覺化經驗
  ・可配合海外出差
  
  【加分條件】
  具備以下任一技術或實務經驗者尤佳：
  ・SAXS、GI-SAXS、CD-SAXS、XRD、XRR 等 X光散射／繞射技術
  ・OCD（Optical Critical Dimension）光學關鍵尺寸量測
  ・Optical Scatterometry（光學散射量測）
  ・Spectroscopic Ellipsometry（光譜橢圓偏光量測）
  ・Reflectometry（反射率量測／分析）
  ・具 Model-based Analysis、Profile Reconstruction、Simulation Fitting 等模型分析、結構重建或模擬擬合經驗
  ・具半導體、分析儀器或量測設備相關的 Application Development（應用開發）經驗
  ・具客戶 Demo、技術支援（Technical Support）或應用技術支援（Application Support）經驗
  
  【期望特質】
  ・能理解客戶的技術需求，並轉化為具體可執行的技術解決方案
  ・能從設備、軟體、樣品結構（Sample Structure）、參考數據（Reference Data）等不同面向進行整合分析與問題排除
  ・具良好的跨部門溝通能力，能協調客戶、應用開發、研發、工程、售後服務及業務等相關團隊
  ・具獨立作業及問題解決能力，並能積極與海外團隊合作
  ・對新型半導體結構、先進量測及分析技術具高度興趣與研究熱忱

• English Level

  B/初級商業程度

• Other Language

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